Wang Y., Zhang Y., Feng Q.R., Gan Z.Z., Guo X., Yang C., Hu H., Ni Z.M.
Ключевые слова: MgB2, thin films, thickness dependence, substrates, HPCVD process, resistive transition, magnetic field dependence, upper critical fields, magnetization, critical caracteristics, pinning force, Jc/B curves, temperature dependence
AIP Advances, 2017, v.7, N 3, p.35117
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.